KU Leuven Kulak.


Kratos Axis Ultra X-ray Photoelectron Spectrometer.


Meten tot op enkele nanometer

In het kader van het Accelerate3 project, gefinancierd door Interreg Vlaanderen-Nederland, het Vlaamse Agenschap Innoveren en Ondernemen (VLAIO), en de provincie West-Vlaanderen heeft de Renewable Material and Nanotechnology onderzoeksgroep, geleid door Prof. Wim Thielemans, een Kratos Axis Ultra X-ray Photoelectron Spectrometer aangekocht. De X-ray Photoelectron Spectrometer van Kratos Analytical laat onderzoekers toe om de chemische compositie en omgeving van oppervlakken in kaart te brengen met een resolutie van 1 micrometer en een diepte van slechts enkele atoomlagen.
Bovendien is het apparaat uitgerust met een 'Argon cluster bron'. Dit laat toe om polymeeroppervlakken vóór analyse te reinigen zonder schade aan te brengen. Het apparaat maakt het ook mogelijk om diepteprofielen van de chemische compositie tot op enkele nanometer te meten en in kaart te brengen.  De spectrometer is  uitgerust met een Ion Scattering Spectroscopy optie waardoor tot op zeker hoogte atoomisotopen van oppervlakte-atomen onderscheiden kunnen worden en het onderscheid tussen organische en metaalatomen verhoogd wordt.

Het staat ter beschikking van de Interreg Accelerate3 partners en staat ook open voor het uitvoeren van chemische karakterisatie van oppervlakken voor industriële partners.

Geïnteresseerden kunnen hiervoor contact opnemen met prof. Wim Thielemans.


Small and Wide Angle X-ray Scattering.

Dankzij het Xeuss 2.0 Small and Wide Angle X-ray Scattering (S/WAXS; kleine en brede hoek x-stralen verstrooiing) toestel van Xenocs kunnen we nu structuurvorming in de bulk van polymeermaterialen in kaart te brengen. Structuurvorming kan het resultaat zijn van bijvoorbeeld kristallisatie of fasescheiding. Dankzij de combinatie van kleine en grote hoekverstrooiing kunnen afstanden in het materiaal tussen 1,5 Å en 78 n m gemeten worden, wat de combinatie van bepaling van kristalliniteit (kleine interatomaire afstanden) en grotere structuurvorming (nm-domain) toelaat. 

 

De Xeuss 2.0 heeft verscheidene staalhouders waardoor vezels, gels, poeders en films kunnen gemeten worden. Het meetcompartiment kan onder vacuüm, normale atmosfeer of zelfs onder gecontroleerde vochtigheid geopereerd worden indien nodig.  Er is voorts een staalhouder met temperatuurcontrole dat toelaat de staaltemperatuur te laten variëren tussen -150oC en 350oC, een flow-through cell voor dispersies, en een graing-incidence opstelling om coatings en dunnen laagjes materiaal te bestuderen voorzien. Het toestel laat ons voorts toe om het uit te breiden met extra staalhouders om ons toe toelaten metingen uit te voeren tijdens rekvervorming en afschuifvervorming (shear).


Isotherme titratie calorimeter.

De titratiecalorimeter is een toestel dat gebruikt wordt om interacties tussen moleculen (die ook polymeren omvatten) te meten. Dit kan gebeuren door het toevoegen van een oplossing van molecule 1 aan een oplossing van molecule 2 en de daaruit voortvloeiende warmtewisseling te meten. Hierdoor kunne de volledige thermodynamische parameters (enthalpie, entropie, Gibbs vrije energy, stoichiometrie) bepaald worden. Het is ook mogelijk om fase-scheiding (incompatibiliteit) tussen polymeren en van additieven in polymeren te meten door gemengde systemen op constante temperatuur te laten ontmengen. De vrijgekomen warmte van deze ontmenging geeft dan informatie over de compatibiliteit van beide moleculen.


Andere beschikbare apparatuur.

 

Beschikbaar in de groep:

  • Elemental analyser (C, H, N, S and O) 
  • ThermoGravimetric Analyser
  • Isothermal Titration Calorimeter
  • Dynamic Light Scattering
  • Zeta potential measurements
  • FTIR and UV spectrometers
  • Carbolite 1200°C furnace with inert/reactive gas or vacuum capability
  • Organic/Polymer and nanoparticle synthesis
  • Gel Permeation Chromatography (GPC)
  • Tensile test system with extensometer
  • Shore Durometer - Mechanical testing service available

Apparatuur, verworven met funding:

  • X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS), expected to be operational end Q2 2017
  • X-ray Diffractometer (XRD) with Small Angle X-ray Scattering (SAXS) capabilities, expected to be operational end Q3 2017

Gedeelde uitrusting met directe toegang:

  • Differential Scanning Calorimeter
  • Polarized, confocal and fluorescence microscopes
  • Rheometers
  • HPLC and GC
  • NMR spectroscopy
  • Electron microscopy (Scanning and Transmission)
  • Dynamic Mechanical Analysis
  • Lab scale compounding
  • Universal testing systems with a variety of load cells


Contactformulier.

Indien uw bedrijf meer wenst te vernemen over deze apparatuur en/of hoe u die kunt gebruiken voor experimenten e.d.m., kunt u uw gegevens hieronder invullen. Er wordt dan zo spoedig mogelijk met u contact opgenomen.

Voer de code in:

Opmerking: De met * gemarkeerde velden zijn verplicht.